Simulatortest

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Simulatortest

Testen Sie mit OP AMP. Das Konzept der „virtuellen Erde“ ab Punkt „a“ lautet wie folgt:

ix=Iref

∴Rx {{0}} Vs/ V0*Rref

Vs und rref sind die Anregungssignalquelle bzw. der Instrumentenberechnungswiderstand. Wenn V0 gemessen wird, kann RX berechnet werden.

Wenn der zu messende Rx die Kapazität und die Induktivität ist, dann ist das Verhältnis zwischen der Wechselstromsignalquelle und Rx die Impedanzform, und C oder l können ebenfalls berechnet werden.

1.2 Bewachung

Die obige Testmethode gilt für unabhängige Geräte, aber die Geräte im tatsächlichen Stromkreis sind miteinander verbunden und interagieren miteinander, sodass der IX 笽 ref während des Tests isoliert werden muss. Isolation ist die grundlegende Technologie des Online-Testens.

Im oberen Schaltkreis ist aufgrund des Verbindungsshunts von R1 und R2 die Gleichung IX 笽 ref, RX=vs / V0 * rref nicht gültig. Solange im Test G und F auf dem gleichen Potenzial liegen, fließt kein Strom durch R2 und es gilt immer noch die Gleichung IX=Iref, RX bleibt unverändert. Wenn der G-Punkt geerdet ist, kann eine Isolierung realisiert werden, da der f-Punkt praktisch geerdet ist und das Potenzial der beiden Punkte gleich ist. In der Praxis sind G und F über einen isolierten Operationsverstärker äquipotential. ICT-Tester können viele Isolationspunkte bereitstellen, um den Einfluss peripherer Schaltkreise auf den Test zu eliminieren.

1.2 IC-Test

Verwenden Sie für digitale ICs den Vektortest. Der Vektortest ähnelt der Messung der Wahrheitstabelle, die den Eingabevektor anregt, den Ausgabevektor misst und die Qualität des Geräts durch den eigentlichen Logikfunktionstest beurteilt.

Beispiel: Test des NAND-Gatters

Für den Test des analogen IC kann der entsprechende Ausgang entsprechend der tatsächlichen Funktionserregungsspannung und dem Strom des IC gemessen werden, was als Funktionsblocktest angesehen wird.

Nicht-Vektortest

Mit der Entwicklung moderner Fertigungstechnologie und dem Einsatz von VLSI nimmt das Schreiben des Vektortestprogramms von Geräten, wie beispielsweise des 80386-Testprogramms, oft viel Zeit in Anspruch, was für einen erfahrenen Programmierer fast ein halbes Jahr dauert. Mit der umfassenden Anwendung von SMT-Geräten tritt das Fehlerphänomen des offenen Schaltkreises der Gerätepins immer stärker in Erscheinung. Aus diesem Grund hat Teradyne die Nicht-Vektor-Testtechnologie von Xpress eingeführt, die von Multiscan eingeführt wird; GenRad.

2.1 Delta-Scan-Analog-Junction-Testtechnologie

Deltascan verwendet den ESD-Schutz oder parasitäre Dioden, die fast alle Pins digitaler Geräte und die meisten Pins digitaler Geräte verwenden, um den Gleichstrom der unabhängigen Pinpaare der getesteten Geräte zu testen. Wenn die Stromversorgung einer Platine unterbrochen wird, ist in der folgenden Abbildung die Ersatzschaltung zweier beliebiger Pins des Geräts dargestellt.

1. Fügen Sie an Pin a eine negative Spannung zur Erde hinzu, und der Strom ia fließt durch die Vorwärtsvorspannungsdiode von Pin a. Messen Sie den Strom ia durch Pin a.

2 halten die Spannung von Pin a aufrecht, fügen eine höhere negative Spannung zu Pin B hinzu, und der Strom IB fließt durch die Vorwärtsvorspannungsdiode von Pin B. Der Strom IA wird aufgrund der Stromaufteilung innerhalb des gemeinsamen Substratwiderstands von Pin a und reduziert Pin B mit Masse verbinden.

3 Messen Sie erneut den Strom ia durch Pin a. Wenn sich ia beim Anlegen der Spannung an Pin B nicht ändert (Delta), muss ein Verbindungsproblem vorliegen.

Die Deltascan-Software synthetisiert die Testergebnisse vieler möglicher Pinpaare des Geräts, um eine genaue Fehlerdiagnose zu erhalten. Signal-Pin, Stromversorgungs- und Erdungs-Pin sowie Substrat nehmen alle am Deltascan-Test teil, was bedeutet, dass deltascan zusätzlich zur Pin-Unterbrechung auch Herstellungsfehler wie fehlendes Gerät, vertauschtes Einsetzen und Kabelunterbrechung erkennen kann.

Tests vom Typ GenRad werden als Junction Xpress bezeichnet. Es nutzt auch die Diodeneigenschaften im IC, aber der Test wird durch Messung der Spektrumseigenschaften (zweite Harmonische) der Diode realisiert.

Die Deltascan-Technologie ist die erste Technologie ohne zusätzliche Vorrichtungshardware.

2.2 Kapazitätskopplungstest von Framescan

Framescan nutzt kapazitive Kopplung, um die Trennung von Pins zu erkennen. Jedes Gerät verfügt über eine kapazitive Sonde. Wenn ein Pin das Signal anregt, nimmt die kapazitive Sonde das Signal auf. Wie in der Abbildung gezeigt:

1. Die Mehrkanal-Schaltplatine am Gerät wählt die kapazitive Sonde eines Geräts aus.

2 Die analoge Testplatine (ATB) im Tester sendet das Wechselstromsignal nacheinander an jeden Pin.

3. Der kapazitive Tastkopf erfasst und puffert das Wechselstromsignal am zu prüfenden Pin.

4 ATB misst das von der kapazitiven Sonde aufgenommene Wechselstromsignal. Wenn ein Pin korrekt mit der Platine verbunden ist, wird das Signal gemessen; Wenn der Pin nicht angeschlossen ist, gibt es kein Signal.

Die GenRad-ähnliche Technologie heißt Open Xpress. Das Prinzip ist ähnlich.

Für diese technische Vorrichtung sind Sensoren und andere Hardware erforderlich, und die Testkosten sind etwas höher.